多功能掃描探針顯微鏡HR-AFM是一款專業(yè)級(jí)的原子力顯微鏡，Z軸噪音低于35皮米。該設(shè)備可以在不破壞樣品內(nèi)部結(jié)構(gòu)的情況下觀測(cè)樣品微區(qū)三維形貌和多相結(jié)構(gòu)；同時(shí)可對(duì)樣品表面物理化學(xué)特性進(jìn)行研究，數(shù)值測(cè)定與分析。

快速掃描探針顯微鏡HR-AFM是一款專業(yè)級(jí)的高分辨率原子力顯微鏡，Z軸噪音低于35皮米。該設(shè)備可以在不破壞樣品內(nèi)部結(jié)構(gòu)的情況下觀測(cè)樣品微區(qū)三維形貌和多相結(jié)構(gòu)；同時(shí)可對(duì)樣品表面物理化學(xué)特性進(jìn)行研究，數(shù)值測(cè)定與分析。

便攜式原子力顯微鏡可以在不破壞樣品內(nèi)部結(jié)構(gòu)的情況下觀測(cè)樣品微區(qū)三維形貌和多相結(jié)構(gòu)（納米級(jí)別）；同時(shí)可對(duì)樣品表面物理化學(xué)特性進(jìn)行研究，數(shù)值測(cè)定與分析。

AFM拉曼聯(lián)用系統(tǒng)可以在不破壞樣品內(nèi)部結(jié)構(gòu)的情況下觀測(cè)樣品微區(qū)三維形貌和多相結(jié)構(gòu)（納米級(jí)別）；同時(shí)可對(duì)樣品表面物理化學(xué)特性進(jìn)行研究，數(shù)值測(cè)定與分析。

葛蘭帕國(guó)產(chǎn)版HR-AFM原子力顯微鏡HR-AFM是一款專業(yè)級(jí)的多功能原子力顯微鏡，Z軸噪音低于35皮米。該設(shè)備可以在不破壞樣品內(nèi)部結(jié)構(gòu)的情況下觀測(cè)樣品微區(qū)三維形貌和多相結(jié)構(gòu)；同時(shí)可對(duì)樣品表面物理化學(xué)特性進(jìn)行研究，數(shù)值測(cè)定與分析。